Forum Übersicht - RE: Sony Alpha DSLR-A900 mit MF-Objektiven - 3

Hallo Thomas,

ZITAT(ddd @ 2011-02-01, 12:03) Dass auch mit ungechippten Objektiven Mehrfeldmessung zu funktionieren scheint, überrascht mich schon eher.[/quote]

das finde ich gar nicht überraschend, denn selbst wenn irgendwelche Entfernungs- oder sonstige Objektivkorrekturdaten nicht vorliegen
spricht doch nichts dagegen weiterhin eine Mehrfeldmessung vorzunehmen.

Wenn ein Fokuspunkt z.B. AF signalisiert kann dieser Messpunkt natürlich noch besonders gewichtet werden, aber das fehlen solcher
Informationen ist doch eigentlich auch kein Grund gleich komplett auf mittenbetonte Integralmessung umzuschwenken.

Ich versuche mal herauszubekommen ob in den A900 EXIF-Daten die wirkliche Messmethode (z.B. beim Rückfall auf mittenbetonte
Integralmessung) eingetragen wird, oder nur die Einstellung an der Kamera gespeichert wird. Wäre in den Exif-Daten die wirklich
durchgeführte Messmethode eingetragen würde das weitere Untersuchungen natürlich deutlich erleichtern.

Ich spreche vom Eintrag: MeteringMode von Exiftool.

BG Hans

So habe nun nochmal etwas getestet.

A900, Stativ, Pancolar 1.8 50mm mit ungechiptem M42 Adapter und mit 1.7 50mm Chip Adapter.

Zunächst zum Testaufbau. Im rechten drittel des Bildfeldes eine helle Lampe, damit
ergab die Mehrfeldmessung mit manuell gewähltem linken AF Sensor bei offener Blende 1/100s,
die mittenbetonte Integralmessung 1/320s, damit auch ein deutlicher Unterschied auszumachen ist,
und damit ein umschalten von Mehrfeld auf Integral offenkundig wäre.

Nun zu meinen Erkenntnissen:
1.
Adapter gechiped oder ungechiped ist für die Belichtungszeitsteuereung im Mode A völlig egal!
Die Kamera hat dabei sowohl bei Mehrfeld, als auch bei mittenbetonter Integralmessung bei
allen Blenden 1.8 bis 16 jeweils identische Zeiten gesteuert.

2.
Die Kamera misst bei beiden Adaptern in Mehrfeldmessung und fällt nicht auf Integral zurück!
Mehrfeld eingestellt bedeutet auch Messung in Mehrfeld, Integral eingestellt bedeutet auch Messung integral.
So auch in den EXIFs.

3.
Das gewählte Autofokusfeld beeinflusst erwartungsgemäß die Mehrfeldmessung, ist jedoch nicht
auf ein AF confirm angewiesen, d.h bei dem Adapter ohne Chip werden die gleichen Zeiten gesteuert
wie beim gechipten und beim gechipten die gleichen ob das AF-Feld confirm meldet oder auch nicht.

4.
Beim ungechippten Adapter wird der EXIF Wert BrightnessValue auf die Blende f1.0 bezogen umgerechnet,
was dann natürlich nicht mit dem Wert beim gechipten Adapter übereinstimmen kann.

Soweit finde ich die Implementierung also in Ordnung.

Was bleibt?
Multisegment; mittenbetont Integral
f1.8 +0,00; +0,00
f2.8 -0,66; -0,66
f4 -1,00; -0,33
f5.6 -1,66; -0,00
f8 -2,33; -0,33
f11 -2,33; -0,00
f16 -2,00; -0,33

Auch bei dieser Konstellation eine nicht verlässliche Belichtungssteuerung für die Multisegment Arbeitsblendenmessung.

Die mittenbetonte Integralmessung schlägt sich da wesentlich besser, daher wohl unsere bisherig so unterschiedlichen Ansichten.

Für mich bleibt somit:
Für die Arbeitsblendenmessung scheint somit die Mehrfeldmessung bestenfalls für weit geöffnete Blenden geeignet,
die mittenbetonte Integralmessung scheint hingegen über einen weiten Blendenbereich genügend genau zu funktionieren.

BG Hans

Ich würde mal annehmen das Problem entsteht dadurch, dass die Belichtungsmessung auf der Mattscheibe vorgenommen wird und die Helligkeit ebendieser hängt nicht nur von der eintreffenden Lichtmenge, sondern auch von der "Strahlengeometrie" ab. Mann kann sich das wahrscheinlich so vorstellen, dass ein teil des lichts diffus gestreut wird und der rest "gerade" durchkommt. Da das Objektiv auf die Mattscheibe fokussiert ist, hätte man am liebsten nur die diffuse Komponente, nur leider ist das bei den modernen "superhellen" Mattscheiben nicht der Fall.

moin,

toll, anstatt tagelang zu grübeln und zu basteln sollte ich häufiger hier bei schlechtem Wetter meine unsortierten Gedanken abkippen: es findet sich schnell jemand, der nicht nur die passende Idee hat, sondern es auch gleich ausprobiert!

aidualk und Hans-J., m.E. ist die Frage "Mehrfeldmessung?" damit geklärt (zumindest für die a700/850/900 )

Dass das Sigma 12-24 sich als Minolta AF 28-80/3.5-5.6 (D) von 2001 ausgibt (genau, die ultra-lowcost Plastikkitscherbe, Vater des hoch gelobten DT18-70, gern in silber), weiß ich. Nur habe ich den ROM-Inhalt eines solchen Dingens nicht; und weigere mich auch, eines dafür zu beschaffen. Davon kann ich nicht ein mal das Bajonett brauchen, Vollplastik Erst mit den ROM-Daten kann ich die sich aufdrängende Vermutung bestätigen, dass bis auf Brennweite und Öffnung alle Werte blind abgeschrieben sind.
Immerhin ist jetzt offenbar, dass Sigma nur die edelsten&besten Linsen zum Zerlegen und Analysieren verwendet ...

Die Frage, ob und unter welchen Bedingungen es (feststellbar mglw. anhand der EXIF-Daten) einen Fallback auf Integralmessung trotz aktivierter Mehrfeldmessung gibt, bleibt vorerst offen.

Es ist korrekt, nix spricht für die Annahme, dass die Fokusentfernung für eine sinnvolle Nutzung der Mehrfeldmessung notwendig ist. Ich hatte vermutet, dass die auch ohne Entfernungsinfo funktioniert, aber keine Prüfidee dazu.

Was mich überrascht, dass es auch "ungechipt" geht. Dass das nicht ginge, haben Matthias und ich ja nicht geträumt, sondern irgendwo in einer vertrauenswürdigen Quelle gelesen, nur wo?

Bleibt die Frage, speziell nach aidualks Versuchen mit den 14mm, ob die auch von anderen immer wieder berichteten Beli-Abweichungen bei adaptiertem Glas jetzt auf den unbedachten Einsatz der Mehrfeldmessung (dürfte bei den Meisten die Standardeinstellung sein) und/oder auf die vermuteten (plausiblen) Abhängigkeiten vom Strahlengang (japro, Dein Ansatz dürfte zumindest auch dazu beitragen) und weiteren Eigenschaften der Linse wie Lage und Größe der Austrittspupille usw. zurückgehen. Leider gibt Zeiss die Lage der Hauptebenen und Pupillen nur für die Contax-Gläser an, zu den ZAs schweigen sie still. Sonst könnte man damit anfangen.

gruesze, thomas

ZITAT(Hans-J. @ 2011-02-01, 23:06) Für mich bleibt somit:
Für die Arbeitsblendenmessung scheint somit die Mehrfeldmessung bestenfalls für weit geöffnete Blenden geeignet,
die mittenbetonte Integralmessung scheint hingegen über einen weiten Blendenbereich genügend genau zu funktionieren.[/quote]

Schön, daß ich fast ausschließlich mit mittenbetonter Integralmessung arbeite. Dann ist es ja kein Wunder, daß ich bisher nicht viel zu meckern hatte und wir komplett konträrer Meinung waren.

PS: Danke für die Testreihen!

ZITAT(ddd @ 2011-02-02, 3:21) m.E. ist die Frage "Mehrfeldmessung?" damit geklärt (zumindest für die a700/850/900 )[/quote]
Haben wir hier eine ähnlich gelagerte Beobachtung bei der DSLR-A700?

http://www.mi-fo.de/forum/viewtopic.php?t=28887

ZITATDie Frage, ob und unter welchen Bedingungen es (feststellbar mglw. anhand der EXIF-Daten) einen Fallback auf Integralmessung trotz aktivierter Mehrfeldmessung gibt, bleibt vorerst offen.

Es ist korrekt, nix spricht für die Annahme, dass die Fokusentfernung für eine sinnvolle Nutzung der Mehrfeldmessung notwendig ist. Ich hatte vermutet, dass die auch ohne Entfernungsinfo funktioniert, aber keine Prüfidee dazu.

Was mich überrascht, dass es auch "ungechipt" geht. Dass das nicht ginge, haben Matthias und ich ja nicht geträumt, sondern irgendwo in einer vertrauenswürdigen Quelle gelesen, nur wo?[/quote]
In Bezug auf die Dynax 9 und Dynax 7 steht das so in der Bedienungsanleitung der Kameras sowie auch in den vier Kamerabüchern von Scheibel und Maschke. Auszug auf der Bedienungsanleitung der Dynax 9, Seite 33:
ZITATOnly the center weighted (p. 47) and spot (p. 46) metering modes are available in manual focus mode. 14-segment honeycomb pattern metering (p. 45) is changed to center weighted average metering when manual focus mode is selected.[/quote]
In der SSM-Ergänzungsanleitung für die Dynax 9 wird explizit darauf hingewiesen, daß die Kamera nun - zumindest mit (D)-Objektiven - auch bei manueller Fokussierung in Mehrfeldmessung arbeiten kann, was im Umkehrschluß unterstreicht, daß sie es sonst nicht kann, schon gar nicht mit Nicht-System-Objektiven:
ZITAT14-segment honeycomb-pattern metering in manual focus

When using D series lenses, distance information from the lens is used to determine exposure with the 14-segment honeycomb-metering system in manual focus as well as autofocus. Metered exposure values may differ slightly between autofocus and manual focus.[/quote]
Und bei der Dynax 7, bei der - damals neu - standardmäßig auch im MF-Betrieb ein Entfernungsencoder in der Kamera mitdreht, finden sich auf Seite 52 folgende Anmerkungen zum "Smooth MF"-Modus, also der speziellen Unterbetriebsart des MF-Modus, in der dieser Entfernungsencoder in der Kamera ausgekuppelt wird:
ZITATSome benefits, such as improved exposure metering and flash-metering accurary in manual focus, will now be the same as with a conventional camera. 14-segment honeycomb-pattern (p. 74) is changed to metering similar to center weighted average, when this option is seleted.[/quote]
Insbesondere im Hinblick auf die Anmerkung in der SSM-Anleitung der Dynax 9, bei der im MF-Modus kein Entfernungsencoder verfügbar ist, dürfte sich dies bei der Dynax 7 eigentlich nur auf Nicht-D-Objektive beziehen, denn D-Objektive besitzen ja einen eigenen Entfernungsencoder. Und wenn damit bei der Dynax 9 Mehrfeldmessung auch in MF-Betriebsart ermöglicht wird, sollte das im Smooth MF-Modus der Dynax 7 ebenso der Fall sein.

Nun wäre es interessant festzustellen, ab wann sich das Verhalten geändert hat.

Viele Grüße,

Matthias

Wir haben ja nun herausgearbeitet, daß die DSLR-A900 und DSLR-A850 (und wahrscheinlich auch die DSLR-A700, möglicherweise noch andere Kameras) im Gegensatz zu früheren Gehäusen Mehrfeldmessung auch in MF-Stellung und mit ungechippten Objektiven erlauben.
Die Mehrfeldmessung kann demnach zu deutlichen Abweichungen von der idealen Belichtung führen, offenbar besonders dann, wenn man ein Fremdobjektiv abblendet:
ZITAT(Hans-J. @ 2011-02-01, 23:06) Was bleibt?
Multisegment; mittenbetont Integral
f1.8 +0,00; +0,00
f2.8 -0,66; -0,66
f4 -1,00; -0,33
f5.6 -1,66; -0,00
f8 -2,33; -0,33
f11 -2,33; -0,00
f16 -2,00; -0,33[/quote]
Offenbar funktioniert die Mehrfeldmessung nur im Offenblendbetrieb gut, was irgendwo auch nachvollziehhbar ist, wenn man bedenkt, daß die Kamera bei ungechippten Objektiven ja nicht "wissen" kann, daß ein Objektiv möglicherweise gerade abgeblendet ist und die Kamera eine veränderte Lichtverteilung als Teil der Szenerie interpretiert und ganz ihrer Funktion entsprechend gegenzusteuern beginnt.

Aber wie sieht es denn mit den Abweichungen zwischen M- und A-Modus aus? War das ein Mißverständnis oder sind diese real?

ZITAT( @ 2011-01-30, 18:34) So wie ich Hans verstanden habe, hat er aber - bei gleicher Blende und gleichem Lichtwert - Abweichungen zwischen M- und A-Modus gefunden, die bei kleinen Blenden stärker auffällig wurden als ohne:
ZITAT(Hans-J. @ 2011-01-29, 23:28) ...
f2 Mode M 1/8000s Mode A 1/8000s Differenz 0,00 Blendenstufen
f2.8 Mode M 1/4000s Mode A 1/5000s Differenz -0,33 Blendenstufen
f4 Mode M 1/2000s Mode A 1/2500s Differenz -0,33 Blendenstufen
f5.6 Mode M 1/1000s Mode A 1/640s Differenz +0,66 Blendenstufen
f8 Mode M 1/500s Mode A 1/160s Differenz +1,66 Blendenstufen
f11 Mode M 1/250s Mode A 1/60s Differenz +2,00 Blendenstufen
f16 Mode M 1/125s Mode A 1/25s Differenz +2,33 Blendenstufen[/quote]
Mit ungechipptem Adapter dürfte es diese Abweichungen zwischen M- und A-Modus nicht geben.[/quote]
Viele Grüße,

Matthias

ZITAT(japro @ 2011-02-01, 23:24) Ich würde mal annehmen das Problem entsteht dadurch, dass die Belichtungsmessung auf der Mattscheibe vorgenommen wird und die Helligkeit ebendieser hängt nicht nur von der eintreffenden Lichtmenge, sondern auch von der "Strahlengeometrie" ab. Mann kann sich das wahrscheinlich so vorstellen, dass ein teil des lichts diffus gestreut wird und der rest "gerade" durchkommt. Da das Objektiv auf die Mattscheibe fokussiert ist, hätte man am liebsten nur die diffuse Komponente, nur leider ist das bei den modernen "superhellen" Mattscheiben nicht der Fall.[/quote]

Servus,

ich hab' schon lange nicht mehr dieses Thema verfolgt. Aber ich bin überrascht, wie es sich weiterentwickelt hat!!

Deine Einschätzung hinsichtlich Mattscheibe paßt auf jeden Fall zu der Aussage im Handbuch (Seite 130): "..Wenn der Scheibentyp nicht richtig eingestellt ist, kann das Licht nicht richtig gemessen werden. .."

Dort ist auch eine Fokusscheibe erwähnt, Typ M, die speziell für "...ein helleres Objektiv nützlich (F1,4 bis F2,8) ..." sei.

Jetzt bleibt offen, wie sich die Effekte in Kombination auswirken. Wieviel Anteil hat die Fokus(Matt)scheibe im Verhältnis zu den anderen aus der Art der Belichtungsmessung kommenden Einflüssen (noch) am Meßergebnis?

VG,

Guido

ZITAT(boxer62 @ 2011-02-15, 21:09) Deine Einschätzung hinsichtlich Mattscheibe paßt auf jeden Fall zu der Aussage im Handbuch (Seite 130): "..Wenn der Scheibentyp nicht richtig eingestellt ist, kann das Licht nicht richtig gemessen werden. .."

Dort ist auch eine Fokusscheibe erwähnt, Typ M, die speziell für "...ein helleres Objektiv nützlich (F1,4 bis F2,8) ..." sei.[/quote]
Der Typ der Einstellscheibe hat definitiv einen Einfluß auf die Belichtungsmessung bei allen Gehäusen, die die Belichtungsmessung oben im Prismengehäuse vornehmen - und das sind meines Wissens alle je existierenden Gehäuse mit A-Bajonett - mit einer Ausnahme: der Minolta 9000 AF, die auch die Dauerlichtmessung über die gleichen Belichtungsmeßzellen unten im Spiegelkasten vornahm, über die auch die Blitzlichtbelichtungsmessung stattfand. Deshalb ist diese Kamera auch komplett unempfindlich gegen Mattscheibentausch und vermutlich ist das auch der Grund, warum es die "PM" mit Schnittbildindikator und Mikroprismenring nur für diese Kamera gab (außer der 7000 AF, wo sie ebenfalls paßte).

Die "M" bzw. "ML" besitzt super-sphärische Mikrowaben im Gegensatz zur "G", "L" und "S", die über sphärische Mikrowaben verfügen. Das Mattscheibenbild der "M" und "ML" ist etwas grobkörniger und dunkler, aber dafür eben auch besser für die manuelle Fokussierung geeignet:

http://www.mi-fo.de/forum/index.php?showto...ost&p=82850

Welchen Anteil nun das Streuverhalten der Mattscheibe und der Richtcharakteristik der Meßwaben der Wabenfeldmessung jeweils haben, ist schwer zu sagen. Ich denke, daß beides zusammenspielt.

Viele Grüße,

Matthias