ZITAT(MarkusT @ 2009-10-15, 22:46) Ich frage mich ob die Mehrfeldmessung der Dynax 7 auch funktioniert wenn ich M42 Objektive benutze?[/quote]
Nein, das ginge nur, wenn Dein M42-Adapter einen ROM-Chip hat, der der Kamera ein System-Objektiv vorgaukelt.
ZITATDie Mehrfeldmessung benutzt ja auch Daten des Autofokussystems? Dann würde sie ja
nicht mit M42 Objektiven zusammenarbeiten![/quote]
Genau so ist es - leider.
ZITATSchaltet die Kamera dann automatisch auf Mittenbetonte Integralmessung um oder sollte mann
manuell umschalten um Fehlbelichtungen zu vermeiden?[/quote]
Die älteren Kameras schalten von Wabenfeldmessung automatisch auf mittenbetonte Integralmessung um, wenn Du die Betriebsart MF wählst (und auch noch in einigen anderen Situationen, in denen die Wabenfeldmessung nicht arbeiten kann). Bedauerlich ist, daß das Meßmethodensymbol im Sucher (und ggfs. auf dem Rückwand-Display) das nicht widerspiegelt, stattdessen ist dort das zu sehen, was Du am Drehschalter eingestellt hast.
Bei den ADI-fähigen Gehäusen geschieht diese Rückschaltung auf mittenbetonte Integralmessung übrigens nur dann, wenn die Kamera wirklich keine Entfernungsinformationen vom Objektiv bekommt, sprich, in Verbindung mit einem (D)-Objektiv, das ja über einen eingebautem Entfernungsencoder verfügt, arbeitet die Wabenfeldmessung an solchen Gehäusen auch bei manueller Fokussierung weiter - das gilt so auch bei der Dynax 9 mit SSM/ADI-Upgrade.
Ab der Dynax 7 verfügen manche (möglicherweise aber auch alle?) Gehäuse auch noch über einen mitlaufenden Entfernungsencoder im Kameragehäuse selbst - dieser Encoder dreht bei Drehung des Entfernungsrings am Objektiv auch dann mit, wenn die Kamera auf MF steht, d.h. in diesen Fällen verfügt die Kamera auch mit Nicht-(D)-Objektiven über eine Art Entfernungsinformation zweiten Grades. Auch das reicht für die Wabenfeldmessung aus.
Bei einigen dieser Gehäuse mit integriertem Entfernungsencoder (zumindest aber bei der Dynax 7) läßt sich auch eine spezielle Betriebsart "Smooth MF" wählen. Dabei wird dann auch der Entfernungsencoder abgekuppelt, so daß sich der Entfernungsring etwas leichter drehen läßt. In diesem Smooth MF-Modus kann die Kamera - außer eben mit (D)-Objektiven - die Entfernungseinstellung am Objektiv nicht mehr mitverfolgen und wird deshalb auf mittenbetonte Integralmessung zurückschalten.
U.a. hier findest Du ein paar Informationen dazu:
http://www.mi-fo.de/forum/index.php?s=&...st&p=232486
In Verbindung mit einem ROM-losen Objektiv wird die Kamera jedoch niemals mit Wabenfeldmessung arbeiten.
ZITATWie sieht es mit der ADI-Blitzmessung aus, sollte man manuell auf eine andere Messmethode umschalten
oder macht die Kamera das automatisch wenn man ein nicht D-Objektiv montiert hat?[/quote]
Das macht die Kamera automatisch. Welche Meßmethode dann allerdings stattdessen zum Einsatz kommt, hängt von einer ganzen Reihe von Begleitumständen ab:
http://www.mi-fo.de/forum/index.php?showto...st&p=167209
http://www.mi-fo.de/forum/index.php?showto...st&p=165614
ZITATUnd noch was ...
Was ist eigentlich der praktisch sichtbare Unterschied zwischen der
4-Segment Blitzmessung Cust. 20.2
und der
Mitt.Integral Blitzmessung Cust 20.3[/quote]
Die Verteilung der Wichtung ist eine andere: In Verbindung mit 4-Segment-TTL-OTF wird das Meßfeld, auf dem der AF steht, stärker gewichtet, als die anderen. Dadurch ist die Wahrscheinlichkeit, daß das Hauptmotiv richtig belichtet wird, größer, weil dieses Motivdetail selektiv ausgemessen werden kann, statt daß die reflektierte Lichtmenge der Umgebung mit ausgewertet wird. (Das gilt natürlich nur unter der Annahme, daß man auf das Hauptmotiv scharfgestellt hat.)
Beispiel:
Eine Person steht außermittig vor einer stark reflektierenden Wand (Metall, Spiegel, weiße Wand, o.ä.). Du stellst auf das Gesicht der Person scharf (AF-Feld) und löst mit Blitz aus. Bei einer mittenbetonten Integralmessung wird das Gesicht der Person vermutlich unterbelichtet werden, da die Kamera die Blitzbelichtung aufgrund des reflektierten Lichts von der Wand stark runtergeregelt hat. Die Wand wird hingegen technisch korrekt belichtet sein. In Verbindung mit Blitz-Mehrfeldmessung kann die Kamera die einzelnen Meßwaben unterschiedlich wichten (genau wie bei der Wabenfeldmessung für Dauerlicht) und so den bildwichtigen Teil (das Gesicht, auf dem die Schärfe liegt) belichtungstechnisch mehr Relevanz einräumen, als den anderen Zellen, die nur auf die Wand "sehen". So bekommst Du eine möglicherweise etwas überbelichtete Wand, aber ein richtig belichtetes Gesicht.
Anderes Beispiel:
Eine Person steht außermittig in der Dunkelheit, der Hintergrund ist weit entfernt. In diesem Fall würde die Kamera mit mittenbetonten Integralmessung das Hauptmotiv vermutlich überbelichten, da die große schwarze "lichtverschluckende" Fläche stark mit in die Belichtung einbezogen wird. Mit Blitz-Mehrfeldmessung und Fokus auf dem Hauptmotiv kann die Kamera die Blitzbelichtung besser am Hauptmotiv orientieren und Du bekommst ein korrekt belichtetes Portrait.
Diese Beispiele gelten jetzt erstmal nur für TTL-OTF-Messung. In Verbindung mit P-TTL und/oder ADI wird die Sache diffiziler (und gerade die Beispielbildchen für ADI in der Anleitung sind leider etwas irreführend). Aber auch dazu findest Du in den oben verlinkten Artikeln einiges an Hintergrundinformationen. Wenn Fragen bleiben, frag ruhig. ;-)
Viele Grüße,
Matthias